W ostatnich latach badania nad promieniowaniem podczerwonym przyciągają uwagę rosnącego grona naukowców ze względu na swój bezinwazyjny wpływ na zdrowie człowieka i powszechność występowania (podczerwień emitują obiekty o temperaturze zbliżonej do pokojowej).
Dlatego znajduje zastosowanie w różnych dziedzinach życia ludzkiego, takich jak np. przemysł, wojsko, medycyna, monitoring środowiska, telekomunikacja, biotechnologia itp.
Wiele z tych zastosowanie wymaga jednak promieniowania o ściśle określonych parametrach związanych z jego zastosowaniem do realizacji precyzyjnych zadań.
Najbardziej wiarygodne informacje dotyczące właściwości promieniowania dostarcza analiza pola bliskiego laserów – źródła promieniowania. Niemniej jednak wykonanie pomiarów bezpośrednio w obszarze pola bliskiego nie jest proste. Większość powszechnie dostępnych na rynków detektorów to złożone układy, których rozmiary umożliwiają wykonanie pomiarów przybliżonych w polu dalekim. Jest to możliwe przez użycie dodatkowych elementów optomechanicznych skupiających wiązkę światła do jej rozmiarów w polu bliskim lub im zbliżonym.
W związku z tym nasi badacze zaproponowali nowatorskie podejście do realizacji pomiarów bezpośrednich w polu bliskim. W opublikowanym artykule został przedstawiony szczegółowy opis projektu, wykonania i przetestowania czułości detektora na promieniowanie z zakresu bliskiej podczerwieni.
Użyte materiały są kompatybilne z technologią CMOS. Przetestowane struktury zostały wykonane techniką litografii i FIB. Działanie detektorów opiera się na zjawisku Seebecka, tj. różnicy temperatur złącz gorących (podgrzewane przez padające bezpośrednio na nie promieniowanie) i złącz zimnych (niepodgrzewane, o temperaturze otoczenia) generuje napięcie mierzone dla każdej pojedynczej termopary osobno. Wyniki badań wstępnych potwierdzają wysoką czułość detektorów na promieniowanie z zakresu bliskiej podczerwieni i motywują do ich kontynuacji w przyszłości.