SQTMet

Projekt pt. „Tranzystor z kropkami kwantowymi na sondzie: nowe ścieżki badania systemów kwantowych metodami mikroskopii bliskich oddziaływań – SQTMet” ma na celu opracowanie nowatorskiej techniki pomiarowej w postaci skaningowej mikroskopii z tranzystorem jednoelektronowym w roli czujnika pola elektrycznego (ang. scanning quantum dot transistor microscopy, SQTM). Kluczowe dla realizacji tego zadania jest wykazanie działania tranzystora z kropkami kwantowymi w temperaturze pokojowej umieszczonego na sondzie pomiarowej.
Technika SQTM będzie charakteryzować się rozdzielczością pomiaru odległości oraz ładunku z rozdzielczościami nieosiągalnymi wcześniej przez urządzenia pomiarowe pracujące w temperaturach pokojowych. Przewidywane są rozdzielczości odległości poniżej 10 pm oraz ładunku poniżej 0,05 ładunku elementarnego e.

Celem projektu jest opracowanie techniki pomiarowej opartej na skaningowej mikroskopii z wykorzystaniem tranzystora jednoelektronowego jako czujnika pola elektrycznego (ang. scanning quantum dot transistor microscopy, SQTM). Prace prowadzone w Zakładzie Technologii Mikrosystemów będą koncentrować się na opracowaniu oraz wytworzeniu struktur kalibracyjnych dla techniki SQTM.