Już dziś o godzinie 9:15 rusza wykład dla studentów Wydziału Inżynierii Materiałowej Politechniki Warszawskiej. Poprowadzi je prof. Jan Muszalski, który dołącza do całego cyklu zajęć edukacyjnych prowadzonych w naszym Instytucie. Zabierze młodych adeptów nauki w świat metody MBE (Molecular Beam Epitaxy), czyli bardzo ważnego narzędzia do wytwarzania struktur półprzewodnikowych. Łukasiewicz – IMiF ma ogromne doświadczenie w tym zakresie. O tym, jak wielkie – studenci dowiedzą się już za chwilę.

Z kolei podczas ostatniego wykładu, prowadzonego przez dra hab. Pawła Michałowskiego, studenci poznali podstawy techniki SIMS (spektrometria mas jonów wtórnych, z ang. secondary ion mass spectrometry) i dowiedzieli się o potencjalnych artefaktach pomiarowych, które mogą utrudniać interpretację wyników.

Zobaczyli też dużo przykładów zastosowania techniki SIMS do badania materiałów i przyrządów: obrazowania fluktuacji indu w studniach kwantowych, analizy usterek lasera VCSEL, detekcji tlenu w materiale GaN, a także badania materiałów 2D. Zobaczyli również najnowsze wyniki oraz zapoznali się z analizą próbek MXene, o których niedawno ukazała się publikacja w „Nature Nanotechnology”. Po wykładzie studenci mieli możliwość zobaczyć urządzenia, na którym zostały wykonane wspomniane badania.