Wzięcie udziału w prestiżowych konferencjach naukowych to doskonała okazja, by wymienić się wiedzą, nawiązać nowe kontakty oraz zaprezentować wyniki swoich badań. Nasza badaczka – Karolina Pągowska – podczas wyjazdu służbowego miała przyjemność uczestniczyć w dwóch ważnych wydarzeniach: 27. Międzynarodowej Konferencji Ion Beam Analysis (IBA) oraz 19. Międzynarodowej Konferencji Particle-Induced X-ray Emission (PIXE). 

Konferencje IBA i PIXE to spotkania gromadzące przedstawicieli środowisk akademickich, badawczych oraz przemysłowych, którzy dyskutują na temat nowych metod analizy materiałów z wykorzystaniem wiązki jonowej. Konferencja IBA odbywa się co dwa lata od 1971 roku, a PIXE, która ma swoją historię od 1976 roku, koncentruje się na metodach detekcji emitowanego promieniowania rentgenowskiego. Choć tematy poruszane na obu konferencjach mogą się różnić, są one komplementarne i mają wiele wspólnych cech, a ich celem jest rozwijanie nowych metod badawczych, które mają zastosowanie w szerokim zakresie, od sztuki starożytnej po nowoczesne technologie.

Podczas tegorocznych konferencji poruszono różnorodne tematy, które obejmowały zarówno aspekty teoretyczne, jak i praktyczne zastosowania technik IBA i PIXE. Wśród omawianych zagadnień znalazły się m.in.:

• Sztuczna inteligencja w analizach IBA
• Symulacja i aspekty fundamentalne
• Zastosowania w dziedzictwie kulturowym, biologii, medycynie, geologii, a także w analizach materiałów związanych z bezpieczeństwem czy kryminalistyką
• Badania nad materiałami fuzyjnymi i jądrowymi, materiałami optycznymi oraz mikroelektronicznymi
• Technologie w bateriach i energetyce

Zdecydowana większość tematów była szczególnie interesująca, biorąc pod uwagę dynamikę rozwoju nowych metod analitycznych oraz ich szerokie zastosowanie w różnych dziedzinach.

Karolina Pągowska zaprezentowała referat na konferencji IBA, który wzbudził spore zainteresowanie uczestników. Jej prezentacja nosiła tytuł:

“Investigating defects induced by Mn implantation and their transformation after annealing for fabrication of thermally stable isolation of GaN-based HEMTs”.

Opisała w niej badania nad defektami indukowanymi implantacją manganu oraz ich transformację po procesie wyżarzania, które mają kluczowe znaczenie dla wytwarzania materiałów o stabilnej izolacji termicznej, wykorzystywanych w technologii HEMT (High Electron Mobility Transistor).
Jej wystąpienie miało miejsce podczas panelu poświęconego materiałom optycznym i mikroelektronicznym, co idealnie pasowało do tematu. Po prezentacji odbyła się żywa dyskusja, która pozwoliła na wymianę doświadczeń i uzyskanie cennych uwag od innych naukowców.

Poza sesjami naukowymi, organizatorzy konferencji przygotowali również wycieczkę po laboratoriach Uniwersytetu w Montrealu. Uczestnicy mieli okazję zobaczyć nie tylko nowoczesne laboratoria badawcze, ale również miejsca, w których prowadzone były prace związane z Projektem Manhattan. Była to świetna okazja do poznania historii badań jądrowych oraz do obejrzenia zaawansowanych technologii wykorzystywanych w naukach materiałowych.

Udział w konferencjach takich jak IBA i PIXE to doskonała okazja do:

• Wymiany wiedzy z ekspertami z różnych części świata
• Nawiązywania współpracy z innymi naukowcami oraz przedstawicielami przemysłu
• Prezentowania wyników swoich badań oraz uzyskiwania opinii od innych uczestników
• Poznania nowych trendów i innowacji w danej dziedzinie
• Zgłębiania interesujących zagadnień teoretycznych oraz praktycznych