Strona Główna Oferta Oferta produktowa i usługowa Mikroelektronika Technologia krzemowa i systemy sensorowe Sonda AFM do mikroskopów do detekcji optycznej
Sonda AFM do mikroskopów do detekcji optycznej
Standardowe sondy AFM w trzech typach, do trybów kontaktowych (f=8-25kHz, k=0.05-0.6 N/m), tapping (f=60-90 kHz, k=1.2 – 5 N/m) oraz bezkontaktowego (f=150-210 kHz, k=30-70 N/m). Ostrze-piramida o promieniu krzywizny <10 nm uzyskana dzięki autorskiej metodzie ostrzenia igieł lub dźwignie w w wersji „tipless” Uniwersalne, do rutynowych pomiarów topografii i sił. Idealne do zastosowań badawczych i edukacyjnych. Rozmiar chipu kompatybilny w systemami AFM dostępnymi na rynku. Niestandardowe konstrukcje dostępne na zamówienie
Nie ma odpowiedzi na twoje pytanie?