W ramach naszej witryny stosujemy pliki cookies w celu świadczenia Państwu usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że pliki opisane w Polityce Prywatności będą zamieszczane na Państwa urządzeniu końcowym. W każdej chwili możecie Państwo zmienić ustawienia dotyczące plików cookies w przeglądarce internetowej. Akceptacja niezbędnych plików cookies jest wymagana do prawidłowego działania witryny. Szczegółowe informacje znajdą Państwo w zakładce POLITYKA PRYWATNOŚCI.

Usługa badania próbek mikroskopem sił atomowych (AFM)

Strona Główna Oferta Oferta produktowa i usługowa Mikroelektronika Technologia krzemowa i systemy sensorowe Usługa badania próbek mikroskopem sił atomowych (AFM)

Usługa badania próbek mikroskopem sił atomowych (AFM)

Usługa badania próbek mikroskopem sił atomowych. Pomiar w trybach kontaktowym lub bezkontaktowym. Badania topografii, właściwości mechanicznych, EFM, Piezoresponse Force  Microscopy, Mikroskopia termiczna Maksymalny rozmiar próbki 200x200mm (wysokość 10mm). Przygotowanie raportu.

Nie ma odpowiedzi na twoje pytanie?

Zapytaj o produkt

This will close in 0 seconds