W ramach naszej witryny stosujemy pliki cookies w celu świadczenia Państwu usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że pliki opisane w Polityce Prywatności będą zamieszczane na Państwa urządzeniu końcowym. W każdej chwili możecie Państwo zmienić ustawienia dotyczące plików cookies w przeglądarce internetowej. Akceptacja niezbędnych plików cookies jest wymagana do prawidłowego działania witryny. Szczegółowe informacje znajdą Państwo w zakładce POLITYKA PRYWATNOŚCI.

Obrazowanie metodami mikroskopii SEM (z przystawką do pomiarów składu chemicznego EDX)

Strona Główna Oferta Oferta produktowa i usługowa Mikroelektronika Technologia GAN, struktury cienkowarstwowe i materiały porowate Obrazowanie metodami mikroskopii SEM (z przystawką do pomiarów składu chemicznego EDX)

Obrazowanie metodami mikroskopii SEM (z przystawką do pomiarów składu chemicznego EDX)

Obrazowanie metodami mikroskopii SEM (z przystawką do pomiarów składu chemicznego EDX) oraz AFM w modach: magnetycznym, elektrostatycznym, przewodnictwa elektrycznego, pojemnościowym.

Nie ma odpowiedzi na twoje pytanie?

Zapytaj o produkt

This will close in 0 seconds