Transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM) to technika obrazowania, w której cienki preparat próbki prześwietlany jest wysokoenergetyczną wiązką elektronów przyspieszaną napięciem 200 kilowoltów. Interakcja elektronów z materiałem umożliwia uzyskanie obrazów o bardzo dużym powiększeniu, sięgającym nawet 1 500 000 razy, co pozwala na precyzyjne badanie wewnętrznej struktury materiałów.
Wykorzystywany w naszej pracowni mikroskop JEOL JEM-2100 umożliwia nie tylko obrazowanie, ale również szczegółową analizę krystalografii i składu chemicznego próbki. W tym celu stosuje się uzupełniające techniki takie jak dyfrakcja elektronowa (SAED i NBD) oraz spektroskopia EDS w trybie skaningowym (STEM), a także obrazowanie z kontrastem Z (HAADF). Umożliwia to identyfikację faz krystalicznych, określenie składu chemicznego oraz analizę ich rozmieszczenia przestrzennego.
Dzięki trybowi wysokorozdzielczemu (HRTEM) możliwe jest obrazowanie periodyczności sieci krystalicznej i szczegółowa ocena jakości granic międzyfazowych. Usługa obejmuje również przygotowanie odpowiedniego preparatu do badań.