Dyfraktometria rentgenowska (XRD) to technika analityczna oparta na zjawisku dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego na uporządkowanych strukturach krystalicznych. Pozwala na identyfikację faz krystalicznych w materiałach polikrystalicznych, ocenę ich udziału ilościowego oraz udokładnianie parametrów strukturalnych za pomocą metody Rietvelda. Dodatkowo umożliwia szacowanie wielkości krystalitów, analizę mikronaprężeń oraz ocenę naprężeń szczątkowych w badanych próbkach.
W naszej pracowni wykorzystujemy dyfraktometr Rigaku SmartLab 3 kW, który oferuje szerokie możliwości pomiarowe. Urządzenie umożliwia prowadzenie badań powierzchniowych w trybie małego kąta padania (GIXRD) oraz analizę próbek w warunkach wysokotemperaturowych do 1100 stopni Celsjusza w trybie in-situ. Dzięki temu możliwa jest obserwacja przemian fazowych oraz zmian strukturalnych zachodzących w czasie rzeczywistym. Technika ta znajduje zastosowanie w badaniach materiałów proszkowych, cienkowarstwowych i litych.