Fluorescencja rentgenowska (XRF) to szybka i nieniszcząca metoda analizy składu pierwiastkowego materiałów stałych, proszków oraz niektórych cieczy. Technika ta opiera się na zjawisku emisji charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego przez atomy pierwiastków, które zostały wzbudzone promieniowaniem pierwotnym. Każdy pierwiastek emituje unikalny zestaw linii promieniowania, co umożliwia jego identyfikację oraz oszacowanie stężenia w próbce.
W naszej pracowni pomiary wykonywane są przy użyciu spektrometru Skyray Instruments EDX 3600H. Urządzenie to umożliwia szybką analizę zarówno pierwiastków lekkich, jak i ciężkich w szerokim zakresie stężeń. Technika XRF znajduje zastosowanie m.in. w kontroli jakości materiałów, analizie stopów metali, identyfikacji domieszek oraz badaniach środowiskowych. Ze względu na nieniszczący charakter metody, możliwe jest badanie gotowych wyrobów bez potrzeby ich obróbki lub naruszania struktury.