Badania niezawodności tranzystorów i diod prowadzone są z wykorzystaniem specjalistycznego testera trwałości, umożliwiającego długotrwałe obciążanie elementów elektrycznych w kontrolowanych warunkach. W trakcie testów możliwe jest przykładanie napięcia i prądu, utrzymywanie podwyższonej temperatury oraz cykliczne przełączanie elementów między stanem włączenia i wyłączenia.
W jednym cyklu testowym można jednocześnie badać do 20 elementów półprzewodnikowych, które umieszczane są w standardowych gniazdach pomiarowych. Elementy mogą być chłodzone wspólnym radiatorem połączonym z masą lub indywidualnymi radiatorami dla każdego z testowanych podzespołów. Preferowane są standardowe obudowy TO-220 oraz TO-247.
Testy pozwalają ocenić stabilność parametrów elektrycznych w czasie, wykrywać mechanizmy degradacji i ocenić odporność komponentów na obciążenia termiczne oraz elektryczne. Metoda znajduje zastosowanie zarówno w pracach badawczo-rozwojowych, jak i przy kwalifikacji nowych technologii oraz komponentów do zastosowań o podwyższonych wymaganiach niezawodnościowych.