dr Paweł Piotr Michałowski

Nasi pracownicy

dr hab. Paweł Piotr Michałowski

Doświadczenie i wykształcenie:

Dr hab. Paweł Piotr Michałowski jest specjalistą w dziedzinie spektrometrii mas jonów wtórnych (SIMS, Secondary Ion Mass Spectrometry), zajmującym się charakteryzacją materiałów i przyrządów półprzewodnikowych w nanoskali. Ukończył studia oraz rozwijał doświadczenie naukowe w obszarze mikro i nanoelektroniki, a w latach 2007-2010 pracował w Fraunhofer CNT w Dreźnie, gdzie zdobywał doświadczenie w zakresie techniki SIMS. Obecnie związany jest z Łukasiewicz – Instytutem Mikroelektroniki i Fotoniki, gdzie prowadzi badania nad zaawansowaną analizą materiałową, szczególnie w obszarze materiałów półprzewodnikowych, struktur trójwymiarowych oraz materiałów dwuwymiarowych. W technice SIMS specjalizuje się w pomiarach z subnanometrową rozdzielczością wgłębną oraz analizie próbek o nieplanarnej architekturze.

W swojej działalności naukowej współpracuje z ponad pięćdziesięcioma partnerami krajowymi i zagranicznymi, obejmującymi uczelnie, instytuty badawcze oraz firmy technologiczne. Specjalizuje się w wykonywaniu i interpretacji pomiarów SIMS oraz rozwijaniu nowych metod analizy materiałowej dla nanoelektroniki i nowoczesnych materiałów funkcjonalnych. W Łukasiewicz – IMiF prowadzi również warsztaty dla doktorantów „Sztuka zdobycia projektu badawczego”, poświęcone przygotowywaniu konkurencyjnych wniosków grantowych oraz zasadom oceny projektów naukowych.

Najważniejsze projekty prowadzone w Instytucie:

Zostały realizowane przez niego projekty SONATA „Charakteryzacja cienkich warstw z nanometrową i subnanometrową rozdzielczością wgłębną przy użyciu metody spektrometrii mas jonów wtórnych”, LIDER NCBR „Trójwymiarowe obrazowanie materiałów i przyrządów półprzewodnikowych o nieplanarnej strukturze przy pomocy techniki spektrometrii mas jonów wtórnych” oraz prace prowadzone w ramach międzynarodowego projektu Horizon 2020 MUNDFAB („Modeling Unconventional Nanoscaled Device FABrication”).

Pasje:

Jego pasją pozostaje spektrometria SIMS, którą traktuje nie tylko jako narzędzie badawcze, ale również przestrzeń do rozwijania nowych metod obrazowania i analizy materiałów. Poza działalnością naukową interesuje się malarstwem impresjonistów i symbolistów.

Publikacje naukowe:

Jest autorem ponad 120 publikacji naukowych, z czego około jedna trzecia powstała z jego udziałem jako pierwszego autora. Jego H-index wynosi obecnie ponad 20. Jest współautorem publikacji w prestiżowych czasopismach naukowych z grupy Nature i Science, w tym pierwszym i korespondencyjnym autorem pracy opublikowanej w Nature Nanotechnology oraz korespondencyjnym autorem publikacji w Science.

This will close in 0 seconds