dr Paweł Piotr Michałowski

Opublikował prawie 40 prac naukowych, a w 17 z nich był pierwszym autorem (aktualny H-Indeks=9). W latach 2007-2010 pracował w Fraunhofer CNT w Dreźnie (Niemcy) i tam poznał technikę spektrometrii mas jonów wtórnych (SIMS z ang. Secondary ion mass spectrometry), w której specjalizuje się do dnia dzisiejszego. 

Jest kierownikiem projektu „Charakteryzacja cienkich warstw z nanometrową i subnanometrową rozdzielczością wgłębną przy użyciu metody Spektrometrii Mas Jonów Wtórnych” (SONATA NCN) oraz  kieruje pracami w międzynarodowym projekcie MUNDFAB („Modeling Unconventional Nanoscaled Device FABrication”), finansowanym z programu Horizon 2020. W obu projektach rozwija technikę SIMS i charakteryzuje materiały stosowane w nanoelektronice. Uczestniczy w innych projektach realizowanych przez Łukasiewicz – IMiF np. Graphene Flagship.

Współpracuje z ponad trzydziestoma ośrodkami krajowymi oraz zagranicznymi (uczelnie, instytuty badawcze, komercyjne firmy). Do jego zadań należy wykonywanie oraz interpretacja pomiarów SIMS.