Pomiary warstw – ellipsometr, profilometr
Elipsometryczny pomiar grubości warstw SiO2, Si3N4, PoliSi oraz pomiar uskoków na powierzchni płytek krzemowych (oraz innych materiałów półprzewodnikowych), szklanych, ceramicznych; podłoża do średnicy 150 mm
Nie ma odpowiedzi na twoje pytanie?
