Wytworzenie oraz charakterystyka nanostruktur do kalibracji mikroskopów zeskanującą sondą

Konsorcjanci

Łukasiewicz Instytut Mikroelektroniki i Fotoniki

Finansowanie

Realizacja

Projekt dofinansowany ze środków budżetu państwa, przyznanych przez Ministra Edukacji i Nauki w ramach programu Polska Metrologia II.

Całkowita wartość projektu: 998 250 PLN

Całkowite dofinansowanie: 998 250 PLN

Data rozpoczęcia projektu: 01.01.2024

Data zakończenia projektu: 31.12.2025

O projekcie

Obecnie w Polsce coraz więcej laboratoriów badawczo-rozwojowych wyposażonych jest w nowoczesne mikroskopy z sondą skanującą, które wykonują badania dla przemysłu.

Ze względu na dynamiczny rozwój nanotechnologii liczba tego typu urządzeń będzie systematycznie rosła w kolejnych latach. Jednak dotychczas tylko nieliczne z tych urządzeń są poddawane rygorystycznym procedurom kalibracyjnym, a duża grupa laboratoriów korzystających z mikroskopów AFM/STM nie posiada opracowanych procedur badawczych dotyczących kalibracji urządzeń z wykorzystaniem wzorców pomiarowych oraz szacowania niepewności pomiaru.

Celem projektu jest wytworzenie nanostruktur, które mogą być wykorzystane w charakterze wzorców do kalibracji mikroskopów ze skanującą sondą (m.in. AFM oraz STM) oraz opracowanie procedur kalibracji tych mikroskopów z wykorzystaniem dostępnych wzorców (w tym naturalnych) oraz wytworzonych w projekcie nanostruktur. Projekt będzie realizowany w ramach porozumienia o współpracy pomiędzy Instytutem Fizyki UJK, Łukasiewicz – IMiF oraz Instytutem Nauk Chemicznych UMCS.

Kontakt

dr inż. Andrzej Sierakowski

Lider projektu

andrzej.sierakowski@imif.lukasiewicz.gov.pl

 

Newsy

This will close in 0 seconds