W dniach 23–25 kwietnia 2025 roku w neogotyckim Zamku Lednice, będącym częścią wpisanego na listę UNESCO zespołu pałacowo-parkowego Lednice–Valtice, odbyły się warsztaty Scanning Probe Microscopy (SPM). Wydarzenie zorganizował Wydział Nanometrologii Pierwotnej i Długości Technicznej Czeskiego Instytutu Metrologii . ​ Warsztaty zgromadziły ekspertów z Europy Środkowej, którzy dzielili się najnowszymi osiągnięciami w dziedzinie mikroskopii skaningowej, w tym w zakresie nowych trybów SPM, UHV STM i AFM oraz innowacji w instrumentacji.​ Obecność polskich naukowców, m.in. badaczy z naszego instytutu, podkreśla rosnącą rolę Polski w międzynarodowych badaniach nad nanometrologią.​