Dr Paweł Michałowski jako jedyny zaproszony prelegent z Europy na konferencji Emerging Smart Materials in Applied Chemistry! To wydarzenie online odbyło się w dniach 3-5.12 i poświęcone było badaniom obliczeniowym i eksperymentalnym materiałów do potencjalnych zastosowań w różnych dziedzinach inżynierii i nauki.

Paweł Michałowski wygłosił przemówienie na temat wykorzystania dedykowanych procedur pomiarowych w technice SIMS (czyli spektrometrii mas jonów wtórnych) do badania inteligentnych materiałów.

Dzięki technice SIMS można odpowiedzieć na wiele fundamentalnych pytań: Jak czysta jest warstwa grafenowa? Czy zanieczyszczenia są wkomponowane w jego strukturę, czy też aglomerują się nad/pod grafenem? Czy MXenes to rzeczywiście tylko węgliki / azotki? Jaki jest powód nieprawidłowego działania laserów VCSEL? Jak obróbka termiczna wpływa na jednorodność studni kwantowych InGaN? Jaki jest mechanizm wbudowywania tlenu podczas epitaksjalnego wzrostu GaN?