Piotr Michałowski został redaktorem czasopisma Microelectronic Engineering wydawanego przez Elsevier. Będzie zarządzał procesem recenzji i oceniał artykuły zgłoszone do publikacji w czasopiśmie. Redaktor naczelny, profesor Mario Lanza, zaprosił go do współpracy w uznaniu jego wkładu w charakteryzację materiałów i urządzeń microelectronic za pomocą techniki spektrometrii mas jonów wtórnych (SIMS). – To wielki zaszczyt i odpowiedzialność. Mam nadzieję, że przyczynię się do rozwoju społeczności naukowej, pomagając zapewnić jakość i integralność publikowanych badań. – podkreśla Michałowski