Czy wiecie, że współczesna elektronika nie istniałaby bez SIMS? Mamy tu na myśli pewną bardzo czułą technikę. Opowiada o niej barwnie, prosto i z czułością dr hab. Paweł Piotr Michałowski.

Technika SIMS, jak już powiedzieliśmy, charakteryzuje się wysoką czułością (wykrywalność na poziomie 1ppb – 1ppm dla większości pierwiastków). Urządzenie CAMECA IMS SC Ultra, z którego korzystamy, umożliwia badanie z subnanometrową, a nawet atomową rozdzielczością wgłębną, co pozwala na charakteryzację ultracienkich warstw, takich jak materiały dwuwymiarowe lub studnie kwantowe.

Zajrzyjcie do naszej OFERTY w zakresie charakteryzacji materiałów!

Wejdźcie na LINKEDIN, by obejrzeć film. Więcej o SIMS także na naszym FACEBOOKU.