Gdy do laboratorium trafia Rolls-Royce wśród elipsometrów

Nowy sprzęt w laboratorium to zawsze moment szczególny, ale są takie dostawy, które elektryzują nawet najbardziej doświadczonych badaczy. Dzięki środkom z KPO infrastruktura badawcza Łukasiewicz – IMiF właśnie wzbogaciła się o elipsometr spektralny RC2® D + XNIR firmy J.A. Woollam – urządzenie, które otwiera zupełnie nowy rozdział w badaniach cienkich warstw.

Elipsometr spektralny RC2® D + XNIR i dlaczego jest tak ważny?

Do Grupy Badawczej Technologia GaN, czujniki, struktury cienkowarstwowe i materiały porowate dotarł elipsometr spektralny RC2® D + XNIR firmy J.A. Woollam – sprzęt uznawany za najwyższą klasę w dziedzinie charakteryzacji cienkich warstw. To narzędzie, które nie tylko uzupełnia istniejącą aparaturę, ale znacząco podnosi poziom prowadzonych badań, umożliwiając analizy dotąd trudne lub niedostępne w jednym, spójnym procesie pomiarowym.

Jakie możliwości daje nowy elipsometr spektralny RC2® D + XNIR?

Nowe urządzenie pozwala na precyzyjne wyznaczanie stałych optycznych (n, k) w bardzo szerokim zakresie spektralnym od 193 do 2500 nm, co ma kluczowe znaczenie dla badań nowoczesnych materiałów półprzewodnikowych i dielektrycznych. Dodatkowo umożliwia pomiary pełnej macierzy Muellera, także w przypadku materiałów anizotropowych oraz depolaryzujących, co znacząco poszerza spektrum możliwych zastosowań badawczych.

W jaki sposób elipsometr RC2® D + XNIR wspiera badania cienkich warstw?

Elipsometr RC2® D + XNIR pozwala na dokładną charakteryzację grubości oraz chropowatości cienkowarstwowych powłok, dostarczając danych niezbędnych do oceny jakości procesów technologicznych. Co więcej, urządzenie umożliwia mapowanie właściwości optycznych próbek, również w zmiennych warunkach temperaturowych – od –70°C aż do 600°C. Taka funkcjonalność otwiera drogę do badań zachowania materiałów w warunkach zbliżonych do rzeczywistych aplikacji.

Jakie nowe kierunki badań stają się możliwe?

Dzięki nowemu elipsometrowi przed zespołem badawczym otwierają się nowe możliwości w obszarze materiałów półprzewodnikowych, dielektrycznych, polimerowych oraz biofunkcjonalnych. Aparatura umożliwia prowadzenie badań w sposób kompleksowy – od analizy struktury molekularnej, przez właściwości cienkowarstwowe, aż po cechy funkcjonalne materiałów, co znacząco wzmacnia potencjał badawczy instytutu.

Dlaczego to kolejny ważny krok w rozwoju infrastruktury badawczej?

Zakup elipsometru RC2® D + XNIR to nie tylko inwestycja w nowoczesne urządzenie, ale przede wszystkim w jakość i zakres prowadzonych badań. Dzięki wsparciu z KPO Łukasiewicz – IMiF konsekwentnie rozwija swoją infrastrukturę, tworząc warunki do realizacji ambitnych projektów badawczych i technologicznych. To krok, który realnie wzmacnia pozycję instytutu jako miejsca, gdzie zaawansowana aparatura spotyka się z naukową pasją i ekspercką wiedzą.

Przeczytaj również