W dniach 20–22 sierpnia dr hab. Paweł Piotr Michałowski, lider Grupy Badawczej Charakteryzacja Materiałów i Przyrządów w Łukasiewicz – IMiF, brał udział w 4th International MXene Conference “MXene: The Next Horizon” w Chicago – jednym z najważniejszych globalnych spotkań dedykowanych syntezie, chemii, właściwościom oraz zaawansowanym zastosowaniom MXenów.
Nasz ekspert wystąpił jako invited speaker z wystąpieniem pt. “From Flat Flakes to Random Networks: Does MXene Complexity Really Limit SIMS?”. Pokazał w nim, jak znacząco można przesunąć granice zastosowania spektrometrii mas jonów wtórnych (SIMS) w analizie MXenów – przechodząc od płaskich, stosunkowo prostych struktur do materiałów o coraz bardziej złożonej morfologii. Kluczowym zagadnieniem była odpowiedź na pytanie, czy rosnąca złożoność materiału nieuchronnie prowadzi do utraty cennych informacji analitycznych.
Jak niekonwencjonalne wykorzystanie techniki SIMS otwiera drogę do przełomowych eksperymentów?
Najlepsze konferencje naukowe poznaje się po tym, że ich prawdziwa siła ujawnia się długo po zwinięciu banerów i wyłączeniu rzutników. Jako Łukasiewicz – Instytut Mikroelektroniki i Fotoniki dbamy o to, aby udział w kluczowych światowych wydarzeniach badawczych przekładał się na trwałe relacje i innowacyjne projekty. Oto jak prelekcja naszego eksperta podczas prestiżowej 4th International MXene Conference w Chicago otworzyła nowe perspektywy dla rozwoju spektrometrii mas jonów wtórnych (SIMS) oraz międzynarodowej współpracy naukowej.
Dlaczego sukcesu konferencji naukowej nie powinno się oceniać wyłącznie w trakcie jej trwania?
Prawdziwie wartościowe efekty wydarzenia naukowego rzadko kończą się wraz z wyświetleniem ostatniego slajdu. Najważniejsze rezultaty stają się widoczne dopiero po kilku tygodniach od oficjalnego zakończenia obrad. To właśnie wtedy, gdy dyskusje przenoszą się do przestrzeni roboczej, nadal rodzą się nowe pytania, powstają koncepcje doświadczeń i zawiązują się partnerskie relacje międzynarodowe.
Czym dr hab. Paweł Piotr Michałowski przyciągnął uwagę światowych ekspertów w Chicago?
W dniach 20–22 sierpnia dr hab. Paweł Piotr Michałowski, lider Grupy Badawczej Charakteryzacja Materiałów i Przyrządów w Łukasiewicz – IMiF, brał udział w 4th International MXene Conference “MXene: The Next Horizon” w Chicago – jednym z najważniejszych globalnych spotkań dedykowanych syntezie, chemii, właściwościom oraz zaawansowanym zastosowaniom MXenów.
Nasz ekspert wystąpił jako invited speaker z wystąpieniem pt. “From Flat Flakes to Random Networks: Does MXene Complexity Really Limit SIMS?”. Pokazał w nim, jak znacząco można przesunąć granice zastosowania spektrometrii mas jonów wtórnych (SIMS) w analizie MXenów – przechodząc od płaskich, stosunkowo prostych struktur do materiałów o coraz bardziej złożonej morfologii. Kluczowym zagadnieniem była odpowiedź na pytanie, czy rosnąca złożoność materiału nieuchronnie prowadzi do utraty cennych informacji analitycznych.
